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OverviewFull Product DetailsAuthor: Lukas MeierPublisher: Springer Fachmedien Wiesbaden Imprint: Springer Spektrum Edition: 1. Aufl. 2020 Weight: 0.466kg ISBN: 9783662614877ISBN 10: 3662614871 Pages: 255 Publication Date: 11 December 2020 Audience: Professional and scholarly , Professional & Vocational Format: Paperback Publisher's Status: Active Availability: Manufactured on demand ![]() We will order this item for you from a manufactured on demand supplier. Language: German Table of ContentsWAHRSCHEINLICHKEITSRECHNUNG UND DESKRIPTIVE STATISTIK.- Grundlagen der Wahrscheinlichkeitsrechnung.- Wahrscheinlichkeitsverteilungen.- Deskriptive Statistik.- Mehrdimensionale Verteilungen.- Grenzwertsätze.- SCHLIESSENDE STATISTIK.- Parameterschätzungen.- Statistische Tests und Vertrauensintervalle für eine Stichprobe.- Vergleich zweier Stichproben.- Lineare Regression.- ANHÄNGE.- Zusammenfassungen und Tabellen.- Herleitungen.- Lösungen zu den Kontrollfragen.ReviewsAuthor InformationDr. Lukas Meier forscht und lehrt am Seminar für Statistik der ETH Zürich. Als Leiter des Weiterbildungslehrgangs in angewandter Statistik und Ko-Leiter der statistischen Beratungsstelle der ETH Zürich liegt dabei der Schwerpunkt auf angewandten Problemen. Tab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |