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OverviewIdealmente, la diffrazione dei raggi X da parte di un cristallo produce picchi di Dirac agli angoli di diffrazione; la rappresentazione grafica dell'intensità diffratta in funzione dell'angolo 2 è chiamata diagramma di diffrazione o diffrattogramma o spettro di diffrazione.L'analisi dei diagrammi di diffrazione porta all'interpretazione delle strutture e delle proprietà microstrutturali dei campioni cristallizzati. Tuttavia, esistono diversi fattori che influenzano la posizione e l'ampiezza del picco e l'intensità diffratta, tra cui la dispersione spettrale, la rifrazione, il fattore di assorbimento e il fattore di Lorentz. Full Product DetailsAuthor: Abdelghani Lakel , Sabrina RoguaiPublisher: Edizioni Sapienza Imprint: Edizioni Sapienza Dimensions: Width: 15.20cm , Height: 0.30cm , Length: 22.90cm Weight: 0.086kg ISBN: 9786208844219ISBN 10: 6208844215 Pages: 56 Publication Date: 09 July 2025 Audience: General/trade , General Format: Paperback Publisher's Status: Active Availability: Available To Order We have confirmation that this item is in stock with the supplier. It will be ordered in for you and dispatched immediately. Language: Italian Table of ContentsReviewsAuthor InformationTab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |
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