Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen: Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen

Author:   Dieter Lipinsky
Publisher:   Deutscher Universitatsverlag
Edition:   1995 ed.
ISBN:  

9783824420667


Pages:   211
Publication Date:   01 January 1995
Format:   Paperback
Availability:   In Print   Availability explained
This item will be ordered in for you from one of our suppliers. Upon receipt, we will promptly dispatch it out to you. For in store availability, please contact us.

Our Price $158.37 Quantity:  
Add to Cart

Share |

Sekundärionen- und Neutralteilchenmassenspektrometrie an oxidischen Dünnschichtsystemen: Der Einfluß ionenbeschußindizierter Prozesse auf die Sekundärteilchenemission im Zerstäubungsgleichgewicht und an Schichtgrenzflächen


Add your own review!

Overview

In zunehmendem Maße wird die Verwendungsmöglichkeit vieler technischer Produkte durch die Eigenschaften ihrer Oberflächen bestimmt. Darüber hinaus werden durch ge- eignete Kombination von Volumen-und Oberflächeneigenschaften neue technologische Anwendungen geschaffen. Dabei kommt der Verwendung dünner Schichten in vielen Industriebereichen eine immer größer werdende Bedeutung zu. Beispielsweise läßt sich die Lebensdauer von Werkzeugen durch das Aufbringen extrem harter Nitridschichten vergrößern. Die Korrosionsbeständigkeit metallischer Produkte kann in vielen Bereichen der metallverarbeitenden Industrie durch die Ver- wendung dünner Passivierungsschichten erhöht werden. Die Miniaturisierung von in- tegrierten Schaltungen wäre ohne die Entwicklung der Dünnschichttechnologie nicht vorstellbar. Mit aus dünnen Schichten aufgebauten Beschichtungen lassen sich die Reflexions-oder Transmissionseigenschaften optischer Bauelemente gezielt beeinflus- sen. Die Verwendung solcher Schichtsysteme setzt dabei nicht nur eine detaillierte Kenntnis der neu entstandenen Oberflächen und Grenzflächen sowie der Zusammen- setzung und Struktur aufgebrachter Schichten, die sich je nach Herstellungsverfahren deutlich von denen der kompakten Materialien unterscheiden können, voraus. Es muß ferner ihre Herstellung oder gezielte Modifikation in jedem Schritt kontrollierbar sein, um Probleme wie mangelnde Haftung, Konzentrationsabweichungen oder Kontamina- tionen zu vermeiden.

Full Product Details

Author:   Dieter Lipinsky
Publisher:   Deutscher Universitatsverlag
Imprint:   Deutscher Universitatsverlag
Edition:   1995 ed.
Dimensions:   Width: 15.50cm , Height: 1.20cm , Length: 23.50cm
Weight:   0.338kg
ISBN:  

9783824420667


ISBN 10:   382442066
Pages:   211
Publication Date:   01 January 1995
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   In Print   Availability explained
This item will be ordered in for you from one of our suppliers. Upon receipt, we will promptly dispatch it out to you. For in store availability, please contact us.
Language:   German

Table of Contents

1 Einleitung.- 2 Theoretische Grundlagen.- 3 Apparaturbeschreibung.- 4 Probensysteme und Messablauf.- 5 Messungen an Oxiden im Zerstaubungsgleichgewicht.- 6 Tiefenprofilanalyse oxidischer Schichtsysteme.- 7 Zusammenfassung.- Abbildungsverzeichnis.- Tabellenverzeichnis.

Reviews

Author Information

Tab Content 6

Author Website:  

Customer Reviews

Recent Reviews

No review item found!

Add your own review!

Countries Available

All regions
Latest Reading Guide

MRG2025CC

 

Shopping Cart
Your cart is empty
Shopping cart
Mailing List