Overview

Die Beugung von Röntgenstrahlen wird heute in vielen Labors zur schnellen, sicheren und zerstörungsfreien Identifikation von Festkörperproben benutzt. Der Einsatz von Kleinrechnern (PCs) und von schnelleren Detektoren hat in der Röntgenpulverdiffraktometrie zu einer Renaissance sowohl in der Phasenanalyse von Gemischen als auch in der Strukturverfeinerung aus Pulverdaten geführt. Das Buch ist aus mehreren Vorlesungen und Übungen des Autors entstanden und dient als praxisbezogenes Lehrbuch mit zahlreichen Abbildungen Studenten der Kristallographie, Mineralogie, Geologie, Chemie und der Materialwissenschaften. Es wird außerdem als Nachschlagewerk von jedem mit dieser Methode arbeitenden Wissenschaftler verwendet. Dies ist die zweite Auflage des Buches. Gegenüber der ersten Auflage wird die Rietveld-Methode und die neue Methode der Profilanpassung durch die Verwendung von physikalisch sinnvollen Fundamentalparametern ausführlicher behandelt.

Full Product Details

Author:   Rudolf Allmann ,  Arnt Kern
Publisher:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Imprint:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Edition:   2. Aufl. 2003
Dimensions:   Width: 15.50cm , Height: 1.50cm , Length: 23.50cm
Weight:   0.910kg
ISBN:  

9783540439677

ISBN 10:   3540439676
Pages:   278
Publication Date:   11 September 2002
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   In Print  
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Language:   German

Table of Contents

A Einleitung: Die Bragg’sche Gleichung.- B Röntgenstrahlen.- B.1 Erzeugung von Röntgenstrahlen (Röntgenröhren).- B.2 Nachweis von Röntgenstrahlen.- B.3 Absorption von Röntgenstrahlen.- B.4 Beugung von Röntgenstrahlen.- C Kristalle.- C.1 Kristallgitter, Elementarzelle.- C.2 Miller’sche Indizes (hkl) und Netzebenenabstände.- C.3 Das reziproke Gitter.- C.4 Symmetrie und Kristallklassen.- C.5 Verbotene Reflexe (Auslöschungsregeln).- C.6 Indizierung von Röntgenreflexen.- C.7 Verfeinerung von Gitterkonstanten.- C.8 Systematische Fehler in 2?.- C.9 Systematische Intensitätsfehler.- D Messung von Pulverdiagrammen.- D.1 Probenvorbereitung.- D.2 Filmkameras.- D.3 Elektronisch registrierende Diffraktometer.- D.4 Messungen unter Druck, bei hohen und tiefen Temperaturen.- D.5 Synchrotron-Strahlung.- D.6 Neutronenbeugung.- E Von der Rohdatei zur Reflexdatei.- E.1 manuelle Auswertung.- E.2 digitale Auswertung mit dem PC.- F Einsatz der Reflexliste (DIF-Datei).- F.1 Phasenidentifizierung unter Verwendung der PDF-Datei.- F.2 Indizierung bekannter und unbekannter Phasen.- F.3 Teilchengröße- und Streß-Bestimmung.- F.4 Texturbestimmung.- G Einsatz der Rohdatei.- G.1 Phasensuche mit der Rohdatei (qualitative Analyse).- G.2 Profilanalyse und quantitative Analyse.- G.3 Berechnete Pulverdiagramme.- G.4 Rietveldmethoden (unter Mitwirkung von Dr. A. Kern).- Lehrbücher und Handbücher.- Perodika.- Zeitschriftenartikel.- Eine Auswahl von Rechenprogrammen für PC’s.- Sachwortverzeichnis.

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