Overview

Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabei n icht nur bei Ge- raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men- schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber- mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus- wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement ""Mikroprozessor"" abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes- sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent- lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver- ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz- maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis- kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu- mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei- terarbeitet. So bemerkt z. B.

Full Product Details

Author:   R. Hedtke
Publisher:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Imprint:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Dimensions:   Width: 17.00cm , Height: 1.20cm , Length: 24.40cm
Weight:   0.420kg
ISBN:  

9783540129967

ISBN 10:   3540129960
Pages:   206
Publication Date:   01 December 1983
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   Out of stock  
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Language:   German

Table of Contents

1. Einleitung.- 2. Fehler in Mikrocomputerkomponenten.- 2.1 Fehlerursachen bei hochintegrierten MOS-Schltkreisen.- 2.2 Fehlerursachen bei bipolaren Schaltkreisen.- 2.3 Klassifizierung der Fehlerarten.- 2.4 Funktionsspezifische Ausfallursachen.- 3. Qualitatssicherung.- 3.1 Berechnung der Zuverlassigkeit von Bauelementen.- 3.2 Berechnung der Ausfallraten von LSI-Chips anhand des Integrationsgrads.- 3.3 Zeitabhangigkeit der Ausfallrate.- 3.4 Temperaturabhangigkeit der Ausfallrate.- 3.5 Zuverlassigkeitsvorhersage nach MIL-HDBK-217B.- 3.6 Bestimmen der Ausfallraten integrierter Bauteile durch Materialprufungen.- 3.7 Fehlerraten von Mikrocomputerelementen.- 3.8 Stichprobenprufungen.- 4. Testverfahren bei integrierten Schaltkreisen.- 4.1 Bausteintest.- 4.2 Testfreundliche Strukturen.- 4.3 Testverfahren bei Mikroprozessorsystemen.- 4.3.1 Mikroprozessorselbsttest.- 4.3.2 Speichertest.- 4.3.3 Peripherietest.- 5. Der Einfluss des Hardwareentwurfs auf die Systemzuverlassigkeit.- 5.1 Zusammenschalten von Bauteilen.- 5.2 Probleme bei der Stromversorgung.- 5.3 Probleme bei Leitungen.- 5.4 Spezielle Probleme mit Schaltkreisen.- 6. Der Einfluss des Softwareentwurfs auf die Systemzuverlassigkeit.- 6.1 Strukturierte Programmierung.- 6.2 Testmustererzeugung.- 6.3 Programmredundanz.- 7. Redundanztechniken.- 7.1 Grundlagen.- 7.2 Methoden zur Fehlererkennung.- 7.3 Statische Redundanz.- 7.4 Dynamische Redundanz.- 7.5 Hybride Redundanz.- 7.6 Vergleich der Redundanzverfahren.- 8. Fehlererkennende und -korrigierende Codes.- 8.1 Zuverlassigkeitsberechnung von Halbleiterspeichem.- 8.2 Grundlagen fehlererkennender und -korrigierender Codes.- 8.3 Codierverfahren fur parallele Datenubertragung und Speicherung.- 8.3.1 Darstellung des Korrekturverfahrens in Matrixform.- 8.3.2 Hammingeode.- 8.3.3 Hardware-optimierter SEC-DED-Code.- 8.4 Codierverfahren fur serielle Datenubertragung und Speicherung.- 8.4.1 Grundlagen zyklischer Codes.- 8.4.2 Schaltungen fur zyklische Codes.- 8.4.3 Beispiele zyklischer Codes.- Stichwortverzeichnis.

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