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Full Product Details

Author:   Detlef Kamke ,  W. Glaser ,  Siegfried Leisegang ,  Heinz Ewald
Publisher:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Imprint:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Volume:   6 / 33
Weight:   1.530kg
ISBN:  

9783540020448

ISBN 10:   3540020446
Pages:   708
Publication Date:   02 January 1956
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Hardback
Publisher's Status:   Out of Print
Availability:   Out of stock  

Table of Contents

Elektronen- und Ionenquellen.- A. Elektronenquellen.- I. Elektronenemission, Kathoden.- II. Strahlerzeugungssysteme.- B. Ionenquellen.- I. Ionenerzeugung und Ionenextraktion.- II. Gute von Ionenquellen.- III. Ionenquellen mit kalten Kathoden.- a) Kanalstrahl-Ionenquellen.- b) Hochfrequenz-Ionenque11en.- c) Penning-Ionenquellen.- IV. Ionenquellen mit Gluhkathoden.- a) Bogenentladungs-Ionenquellen.- b) Elektronenstossquellen.- c) Ionenquellen fur Massentrenner.- V. Verschiedene Typen.- Zusammenfassende Literatur uber Elektronenquellen.- Elektronen- und Ionenoptik.- I. Elektronen- und Ionenbewegungen als optisches Problem.- II. Berechnung von Ablenk- und Abbildungsfeldern.- III. Optische Abbildung in rotationssymmetrischen Feldern.- IV. Theorie der geometrischen Aberrationen.- V. Ablenkung von Elektronenstrahlbundeln in elektrischen und magnetischen Ablenksystemen.- VI. Elektronenoptische Systeme mit gekrummter Hauptachse.- VII. Elektronische Abbildung auf Grund der Wellenmechanik.- VIII. Raumladungen.- Literatur.- Elektronenmikroskope.- I. Grundlagen.- a) Objektive.- b) Anordnung und Bestrahlung des Objekts.- c) Beobachtung des Endbildes.- II. Technische Formen.- a) Durchstrahlungsmikroskope.- b) Oberflachen abbildende Mikroskope.- c) Technische Anlagen.- III. Theoretische und experimentelle Grenzen.- a) Geratbedingte Grenzen.- b) Objektbedingte Grenzen.- IV. Aussagen uber das Objekt.- a) Gestalt und Kontrast.- b) Analyse durch Elektronenbeugung.- c) Geschwindigkeitsanalyse.- Bibliographie: A. Zusammenfassende Darstellung uber Elektronenmikroskope.- B. Literaturverzeichnisse.- Massenspektroskopische Apparate.- I. Parabelspektrographen.- II. Richtungsfokussierende massenspektroskopische Apparate kleiner Auflosung (A < 1000).- III. Kombination von elektrischen und magnetischen Ablenkfeldern zu richtungs-, geschwindigkeits- und doppelfokussierenden Apparaten meist hoher Auflosung.- IV. Hochfrequenz-Massenspektrometer.- Literatur.- Beta-Ray Spectroscopes.- I. Introduction.- II. Fundamental principles of beta-ray spectroscopy.- III. Flat spectroscopes.- IV. Lens spectroscopes.- V. Comparison between different types.- VI. Electrostatic field spectroscopes.- VII. High precision beta and gamma-ray spectroscopy.- VIII. Experimental techniques.- IX. Beta-ray spectroscopic technique applied to gamma-ray spectroscopy.- X. Coincidence spectrometers.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).

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