Overview

Die vorliegende Arbeiot entstand wiihrend meiner Tiitigkeit am Institut fUr Industrielle Fertigung und Fabrikbetrieb (IFF) der Universitiit Stuttgart und am Fraunhofer-Institut fUr Produktionstechnik und Automatisierung (IPA), Stuttgart, beide unter Leitung von Herrn Prof. Warnecke. Ibm mochte ich fUr die Ermoglichung und Forderung der Arbeit im Rahmen meiner Beschiiftigung an diesen Instituten danken. Herrn Prof. Tiziani danke ich fUr die genaue und konstruktive Durchsicht der Arbeit und Ubernahme des Korrefera- tes. Auch die Partner aus der Industrie, die durch ihr Vertrauen und Vergabe von F&E- Auftriigen meine Arbeit unterstiitzten mochte ich bei dieser Gelegenheit besonders er- wiihnen. Bei der Durchfiihrung meiner Arbeiten wurde ich von zahlreichen Kollegen hilfreich un- terstiitzt. Hervorzuheben sind hierbei insbesondere Herr Dipl.-Ing. M.Recknagel und Herr K.Hager fUr die DurchfUhrung konkreter fachlicher Arbeiten sowie Herr Dr. rer.nat. M.Schmutz und Frau Dipl.-Math. B.Oestreich fUr zahlreiche wertvolle Anregungen bei der schriftlichen Ausarbeitung. Der Entstehung der Arbeit fielen zahlreiche Wochenden und Urlaubstage zum Opfer. Fiir ihre Ermunterung und ihr Verstiindnis danke ich in diesem Zusammenhang ganz besonders meiner Frau Regina.

Full Product Details

Author:   Wolfgang Rauh
Publisher:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Imprint:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Volume:   178
Dimensions:   Width: 14.00cm , Height: 0.70cm , Length: 21.60cm
Weight:   0.220kg
ISBN:  

9783540568766

ISBN 10:   354056876
Pages:   134
Publication Date:   04 June 1993
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   Out of stock  
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Language:   German

Table of Contents

1 Einleitung.- 2 Prinzipien optoelektronischer Koordinatenmessgerate fur die Fertigungsmesstechnik.- 2.1 Oberflachenantastende Verfahren.- 2.2 Konturantastende Verfahren.- 3 Geratetechnischer Aufbau.- 3.1 Mechanische Messeinrichtung.- 3.2 Optische Messeinrichtung.- 3.2.1 Beleuchtungseinrichtungen.- 3.2.2 Abbildende Optik.- 3.2.3 Fokussiereinrichtungen.- 3.2.4 Optoelektronische Wandlersysteme.- 3.2.5 Systeme zur Signalauswertung.- 3.2.6 Steuerrechner.- 4 Programme zur Geratesteuerung.- 4.1 Bedienebene.- 4.2 Organisationsebene.- 4.3 Gerateebene.- 5 Programmtechnik fur die Bildauswertung.- 5.1 Definition des Auswertebereichs.- 5.2 Konturantastung.- 5.2.1 Definition der auszuwertenden Kontur.- 5.2.2 Extraktion von Konturdaten.- 5.3 Auswertung von Konturdaten.- 5.3.1 Kontursegmentierung.- 5.3.2 Bestimmung von Formelementen.- 5.3.3 Konturmerkmale fur die Sichtprufung.- 5.4 Hoehenmessfunktionen.- 6 Integration optoelektronischer Koordinatenmessgerate in die Fertigung.- 6.1 CAD-Kopplung.- 6.1.1 Off-Line Programmierung.- 6.1.2 Digitalisierung von Musterteilen.- 6.2 CAQ-Anbindung.- 7 Realisierungsbeispiele.- 7.1 Kombiniert optisch/mechanisches Koordinatenmessgerat.- 7.1.1 Geratetechnischer Aufbau.- 7.1.2 Programmtechnischer Aufbau.- 7.1.3 Anwendungsbeispiel.- 7.2 Messgerat fur flachenhafte Teile.- 7.2.1 Geratetechnischer Aufbau.- 7.2.2 Programmtechnischer Aufbau.- 7.2.3 Anwendungsbeispiel.- 7.3 Universelles Koordinatenmessgerat mit Flachenwandler.- 7.3.1 Geratetechnischer Aufbau.- 7.3.2 Programmtechnischer Aufbau.- 7.3.3 Anwendungsbeispiele.- 8 Zusammenfassung und Ausblick.- 9 Schrifttum.

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