Kontrola starzenia się tranzystorów mocy
Author:   Tarek Ben Salah ,  Stéphane Lefebvre ,  Douha Othmen
Publisher:   Wydawnictwo Nasza Wiedza
ISBN:  

9786208939489


Pages:   88
Publication Date:   17 June 2025
Format:   Paperback
Availability:   Available To Order   Availability explained
We have confirmation that this item is in stock with the supplier. It will be ordered in for you and dispatched immediately.

Our Price $187.44 Quantity:  
Add to Cart

Share |

Kontrola starzenia się tranzystorów mocy


Overview

Niniejsza książka przedstawia doglębne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagających zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletną metodologię, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymalościowe w celu określenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametrów elektrycznych. Uzyskane wyniki podkreślają wiarygodne wskaźniki degradacji i otwierają interesujące perspektywy projektowania bardziej odpornych systemów elektronicznych w ekstremalnych środowiskach.

Full Product Details

Author:   Tarek Ben Salah ,  Stéphane Lefebvre ,  Douha Othmen
Publisher:   Wydawnictwo Nasza Wiedza
Imprint:   Wydawnictwo Nasza Wiedza
Dimensions:   Width: 15.20cm , Height: 0.50cm , Length: 22.90cm
Weight:   0.127kg
ISBN:  

9786208939489


ISBN 10:   6208939488
Pages:   88
Publication Date:   17 June 2025
Audience:   General/trade ,  General
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   Available To Order   Availability explained
We have confirmation that this item is in stock with the supplier. It will be ordered in for you and dispatched immediately.
Language:   Polish

Table of Contents

Reviews

Author Information

Tab Content 6

Author Website:  

Countries Available

All regions
Latest Reading Guide

MRGC26

 

Shopping Cart
Your cart is empty
 Shopping cart
Mailing List

 

Sign up now