Overview

Die digitale Prüf technik muß mit der zunehmenden Komplexität digitaler Schaltungen Schritt halten. Die hochintegrierte Schaltungstechnik bewirkte, daß heute eine einzige Leiterplatte Funktionen erfüllt, für die man noch vor einigen Jahren Baugruppen im Schrankformat benötigte. Die digitale Prüf technik wird daher automatisiert. Algorithmisch erstellte Testsätze werden durch einen Prozeßrechner an die zu prüfende Leiterplatte angelegt und die Ergebnisse werden mit Sollwerten verglichen.Es wird eine Echtzeitprüfung angestrebt, denn nur sie gestattet eine Aussage über die Funktion der Leiter- platte unter Betriebsbedingungen. Der hier vorgestellte Prüfplatz erfüllt die Forderungen nach Automatisierung und Echtzeitprüfung. An Hand von Beispielen wer- den seine Leistungen nachgewiesen. - 3 - Inhalt Einleitung 1. 5 Der Prüfplatz für quasistatische Prüfung 7 2. Elektrischer und mechanischer Aufbau 7 2. 1 2.2 Der Datentransfer 10 Arbeitsweise 2.3 1 1 Erweiterung des Prüfplatzes 2.4 16 Der Prüfplatz für Real-Time prüfung 24 3. 3.1 Ubersicht über den Hardware-Aufbau 24 3.2 Testmusterspeicher 27 3.3 Sequenzerbaustein 28 3.4 Interne Clock 29 3.5 Pinzuordnung 30 3.6 Vergleicher 31 3.7 Befehlsdecoder 32 3.8 Ubersicht über die Ansteuersoftware 34 Untersuchungen mit dem Prüfplatz für 4.

Full Product Details

Author:   Hans Jörg Tafel ,  Hans Jorg Tafel
Publisher:   Springer Fachmedien Wiesbaden
Imprint:   Springer VS
Edition:   1980 ed.
Volume:   2995
Dimensions:   Width: 17.00cm , Height: 0.40cm , Length: 24.40cm
Weight:   0.147kg
ISBN:  

9783531029955

ISBN 10:   3531029959
Pages:   69
Publication Date:   01 January 1980
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   In Print  
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Language:   German

Table of Contents

1. Einleitung.- 2. Der Prufplatz fur quasistatische Prufung.- 2.1 Elektrischer und mechanischer Aufbau.- 2.2 Der Datentransfer.- 2.3 Arbeitsweise.- 2.4 Erweiterung des Prufplatzes.- 3. Der Prufplatz fur Real-Time Prufung.- 3.1 UEbersicht uber den Hardware-Aufbau.- 3.2 Testmusterspeicher 2.- 3.3 Sequenzerbaustein.- 3.4 Interne Clock.- 3.5 Pinzuordnung.- 3.6 Vergleicher.- 3.7 Befehlsdecoder.- 3.8 UEbersicht uber die Ansteuersoftware.- 4. Untersuchungen mit dem Prufplatz fur quasistatische Prufung.- 4.1 Erkennungs- und Lokalisierungsleistung bei Kurzschlussen zwischen Signalleitungen.- 4.2 Einflusse der Technologie auf das Fehlerverhalten.- 4.2.1 Aufbau des C-MOS-Gatters.- 4.2.2 Elektrische Eigenschaften der C-MOS-Gatter und ihr Einfluss auf das Kurzschlussverhalten.- 5. Untersuchungen mit dem Prufplatz fur Real-Time - Prufung.- 5.1 Erkennungsleistung bei kritischen Signallaufzeiten.- 5.2 Erkennungsleistung bei gegenseitiger Beeinflussung.- 6. Zusammenfassung.- 7. Literatur.

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