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Dans la fabrication d'un produit, la maitrise des proprietes physiques des materiaux utilises est indispensable. La determination de ces proprietes passe en general par le biais d'autres proprietes intermediaires telles que les proprietes electromagnetiques. A cet effet, nous avons mis au point une technique de caracterisation sans contact de materiaux non transparents, en transposant les concepts de base de l'ellipsometrie optique en hyperfrequence. La caracterisation se fait par resolution d'un probleme inverse par deux methodes numeriques: une methode d'optimisation classique utilisant l'algorithme iteratif de Levenberg Marquardt et une methode de regression par l'utilisation de reseaux de neurones de type perceptron multicouches. Avec la premiere methode, on determine deux parametres de l'echantillon a savoir les indices de refraction et d'extinction. Avec la deuxieme, on determine les deux indices ainsi que l'epaisseur de l'echantillon. Pour la validation, nous avons monte un banc experimental en espace libre a 30 GHz, en transmission et en incidence oblique, avec lequel nous avons effectue des mesures sur du teflon et d'epoxy d'epaisseurs allant de 1 a 30 mm.

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9783841743251

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