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Dieser Buchtitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfängen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen für die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfügung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden müssen. Dieser Titel erschien in der Zeit vor 1945 und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben.

Full Product Details

Author:   Manfred von Ardenne ,  Manfred Von Ardenne
Publisher:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Imprint:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Edition:   Softcover reprint of the original 1st ed. 1940
Dimensions:   Width: 17.80cm , Height: 2.20cm , Length: 25.40cm
Weight:   0.787kg
ISBN:  

9783642471032

ISBN 10:   364247103
Pages:   396
Publication Date:   01 January 1940
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   In Print  
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Language:   German

Table of Contents

A. Allgemeine Grundlagen.- I. Eigenschaften der Elektronenstrahlung.- 1. Die Ablenkgesetze der Elektronenstrahlung.- 2. Die Wellenlange der Elektronenstrahlung.- II. Elektrostatische Sammellinsen.- 1. Die elektrostatische Einzellinse.- 2. Die elektrostatische Beschleunigungslinse.- 3. Elektrostatische Einzellinse kurzester Brennweite.- III. Magnetische Sammellinsen.- 1. Einfache Spulen.- 2. Eisengekapselte und Polschuhlinsen kurzester Brennweite.- IV. Die Elektronenquelle.- 1. Die Kathode.- 2. Das Strahlerzeugungssystem.- V. Elektronenindikatoren.- 1. Der Leuchtschirm.- 2. Die photographische Schicht.- B. Die theoretischen Grundlagen des Elektronenmikroskopes.- I. Wirkungsweise.- 1. Abbildung von Objekten mit Eigen- oder Fremdstrahlung.- 2. Strahlengang des Elektronenmikroskopes.- 3. Die Entstehung der Bildkontraste.- 4. Hellfeld- und Dunkelfeld-Beleuchtung.- II. Die Grenzen fur das Aufloesungsvermoegen.- 1. Der Beugungsfehler.- 2. Der Raumladungsfehler.- 3. Der OEffnungsfehler.- a) Zusammensetzung des OEffnungsfehlers aus verschiedenen Bildfehlern.- b) Berechnung und Messung des OEffnungsfehlers.- c) Die Groesse des OEffnungsfehlers bei magnetischen. Polschuhlinsen und kurzbrennweitigen elektrischen Einzellinsen.- 4. Der chromatische Fehler.- a) Der einfache chromatische Fehler.- b) Der chromatische Auslenkfehler bei mangelhafter Blendzentrierung *.- c) Der chromatische Auslenkfehler bei mangelhafter Objektzentrierung *.- 5. Der Fehler durch raumliche Elektronenstreuung.- 6. Der Fehler durch magnetische Stoerfelder.- 7. Der Gesamtfehler.- 8. Die Grenzen fur die Kontraststeuerung.- 9. Intensitatsfragen und Aufloesungsvermoegen.- a) Die Stromdichte des Endbildes.- b) Belichtungszeit und Aufloesungsvermoegen.- c) Leuchtschirmhelligkeit und Aufloesungsvermoegen.- d) Einstellung des Beleuchtungssystemes auf kleine Objektbelastung.- e) Ultramikroskopie des Elektronenmikroskopes.- C. Die theoretischen Grundlagen der Elektronensonden-Mikroskope.- I. Wirkungsweise.- 1. Prinzip der Elektronensonden-Mikroskope.- a) Elektronen-Rastermikroskop.- b) Elektronen-Schattenmikroskop.- c) Roentgenstrahlen-Schattenmikroskop.- 2. Herstellung der Elektronensonde.- 3. Die Ablenkung der Elektronensonde.- 4. Die verschiedenen Beleuchtungsarten beim Rastermikroskop.- 5. Die Untersuchung von Objekten in Luft.- II. Die Grenzen fur das Aufloesungsvermoegen.- 1. Der Beugungsfehler.- 2. Der Raumladungsfehler.- 3. Der OEffnungsfehler.- 4. Der chromatische Fehler.- 5. Der Fehler durch raumliche Elektronenstreuung.- 6. Der Fehler durch magnetische Stoerfelder.- 7. Der Gesamtfehler.- 8. Die Grenzen fur die Kontraststeuerung.- 9. Intensitatsfragen und Aufloesungsvermoegen.- a) Die Intensitat der Elektronensonde.- b) Verschiedene Elektronenindikatoren und ihre Grenzempfindlichkeit.- c) Die Intensitatsverhaltnisse bei Aufsichtbeobachtung mit dem Rastermikroskop.- D. Elektronenstrahlung und Objekt.- I. Die durch Elektronenstreuung im Objekt verursachten Abbildungsfehler und ihr Verhaltnis zueinander.- 1. Die raumliche Streuung von Elektronen in Objektschichten.- 2. Streufehler, Kontrasterkennbarkeit und mittlere Objektebenentiefe.- 3. Vergleich von Streufehler und chromatischem Abbildungsfehler.- II. Die Groesse der Objektbelastung.- 1. Energieaufnahme im Objekt.- 2. Ladungsaufnahme und Ionisierung im Objekt.- III. Die Empfindlichkeit lebender Substanz gegen Elektronenbestrahlung.- E. Wichtige Groessen fur die Dimensionierung von Elektronenmikroskopen.- I. Die Groesse und Abschirmung stoerender Magnetfelder.- 1. Groesse der Gleichfeldschwankungen.- 2. Groesse der 50-Perioden-Streufelder.- 3. Die Verteilung der Stoerempfindlichkeit langs der Achse eines elektronenmikroskopischen Strahlenganges.- 4. Die Abschirmung statischer Magnetfelder durch Hohlzylinder.- 5. Die Abschirmung magnetischer Wechselfelder durch Hohlzylinder.- II. Das Aufloesungsvermoegen photographischer Schichten fur Elektronenstrahlung.- 1. Die theoretische Abschatzung des Aufloesungsvermoegens.- 2. Untersuchung des Aufloesungsvermoegens mit der Elektronensonde.- 3. Ergebnisse mit normalen Photoschichten und bindemittelfreien Schichten.- III. Das Aufloesungsvermoegen von Leuchtschirmen fur Elektronenstrahlung.- 1. Steigerung der Leuchtbildhelligkeit durch vergroessernde Beobachtungsmittel grosser Apertur.- 2. Die Bestimmung des Aufloesungsvermoegens.- 3. Einkristall- und Feinkorn-Leuchtschirme aus aktiviertem Zinksulfid und ihre Daten.- IV. Die Abschirmung schadlicher Roentgenstrahlung.- F. Bauelemente und Hilfseinrichtungen der Elektronenmikroskope.- I. Das Kathodensystem.- 1. Kathodendaten und Lebensdauer.- 2. Systemkonstruktion.- II. Die kurzbrennweitigen Elektronenlinsen.- 1. Die Konstruktion elektrischer Linsen.- 2. Die Konstruktion magnetischer Linsen.- III. Die Objekthalterungen und Objektschleusen.- 1. Die Ausfuhrung des Objekttragers.- 2. Die Objektbewegung.- 3. Die Objektschleuse.- IV. Kamera und Photomaterialschleuse.- 1. Die Plattenkamera.- 2. Die Filmkamera.- V. Blenden und Bohrvorrichtungen fur kleinste Blendloecher.- 1. Die Ausfuhrung der Blenden.- 2. Mechanische Bohrvorrichtungen.- 3. Die Ionensonde als Bohrvorrichtung.- 4. Die Kreuzspaltblende.- 5 Mikroskopische Hilfseinrichtung zur Zentrierung der Blenden.- G. Die Vakuumtechnik der Elektronenmikroskope.- I. Das erforderliche Vakuum.- II. Die Pumpanlage.- III. Vakuummessung und Suche nach Undichtigkeiten.- IV. Vakuumtechnische Konstruktionselemente.- 1. Vakuumdichtungen.- 2. Vakuumloetungen.- 3. Schliffe und federnde Verbindungen.- H. Die Hochspannungsanlagen der Elektronenmikroskope.- I. Die Messung von Schwankungen der Hochspannung.- 1. Einfluss von Anodenspannungsschwankungen auf die Bildscharfe.- 2. Messeinrichtung zur Kontrolle der Scharfeneinstellung.- a) Prinzip.- b) Ausfuhrung.- c) Erreichte Messgenauigkeiten.- II. Hochspannungsanlagen grosser Spannungskonstanz.- 1. Die wichtigsten Wege zur Erzeugung gleichbleibender Hochspannungen.- 2. Schaltung, Ausfuhrung und Ergebnisse einer Anlage mit magnetischen Gleichhaltern.- J. Die praktische Ausfuhrung des Elektronenmikroskopes.- I. Die Dimensionierung.- II. Die Gesamtkonstruktion.- III. Das Kondensorsystem.- IV. Das Objekt- und Objektivsystem.- V. Das Projektionslinsensystem.- VI. Die Kamera.- VII. Die Scharfstellung.- K. Die praktische Ausfuhrung der Elektronensonden-Mikroskope.- I. Die Dimensionierung.- II. Herstellung der Elektronensonde.- III. Herstellung des Objektrasters beim Rastermikroskop.- IV. Die Registriereinrichtung der Sondenmikroskope.- V. Die Scharfstellung der Sondenmikroskope.- L. Objektpraparierungstechnik.- I. Die verschiedenen Arten elektronenmikroskopischer Praparate.- II. Die Keilschnittmethode zur Herstellung von Mikrotomschnitten mit weniger als 10?3 mm Starke.- 1. Theorie des Schneidevorganges.- 2. Mikrotommesser und Kleinformatschnitt.- 3. Das Prinzip der Keilschnittmethode.- 4. Konstruktive Ausfuhrung des Keilschnittmikrotoms.- 5. Praktische Herstellung der Keilschnitte.- 6. Ergebnisse.- III. Objekte auf Folien.- 1. Herstellung von Objekttragerfolien bestimmter Dicke.- 2. Aufbringung von Objektpartikeln auf die Tragerfolie.- 3. Verhalten der Folienpraparate bei Durchstrahlung mit Elektronen.- IV. Die Verwendung der Strahlungssonden fur Mikromanipulationen.- M. Die Bestimmung des Aufloesungsvermoegens.- I. Die verschiedenen Methoden.- II. Die praktische Durchfuhrung der Bestimmung.- N. Stereo-Elektronenmikroskopie.- I. Die Grundlagen.- II. Verschiedene Anordnungen zur Gewinnung stereoskopischer Teilbilder bei Elektronenmikroskopen.- O. Die Ergebnisse der Elektronen-UEbermikroskopie auf den verschiedenen Anwendungsgebieten.- I. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes auf physikalische, chemische und technische Probleme.- 1. Die Sichtbarmachung von Molekulen.- 2. Die Sichtbarmachung von Atom- und Molekulkomplexen.- a) Korpuskulare Metallkolloide.- b) Staube und Rauche.- c) Farbstoffe.- d) Katalysatoren.- e) Hochpolymere organische Verbindungen.- f) Photochemische Reaktionsprodukte.- 3. Gestalts- und Oberflachenanalyse groeberer Objekte.- a) Untersuchungen von plattchenfoermigen Systemen.- b) Untersuchung von Oberflachen.- c) Untersuchung der Substanzaufteilung bei groeberen Objekten.- II. Die Anwendung des Elektronenmikroskopes in Biologie und Medizin.- 1. Untersuchung von Proteinen und Virusarten.- 2. Untersuchung von Bakterien.- 3. Untersuchung von Zellstrukturen.- 4. Untersuchung groeberer Objekte.- P. Namen- und Sachverzeichnis.

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