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OverviewEste livro apresenta um estudo experimental aprofundado do comportamento dos transístores SiC JFET para aplicações aeroespaciais exigentes. É descrita uma metodologia completa, incluindo a conceção de um banco de ensaios automatizado utilizando LabView, testes de robustez para determinar a energia crítica e testes de envelhecimento acelerado para monitorizar as alterações nos parâmetros eléctricos. Os resultados obtidos evidenciam indicadores de degradação fiáveis e abrem perspectivas interessantes para a conceção de sistemas electrónicos mais resistentes em ambientes extremos. Full Product DetailsAuthor: Tarek Ben Salah , Stéphane Lefebvre , Douha OthmenPublisher: Edicoes Nosso Conhecimento Imprint: Edicoes Nosso Conhecimento Dimensions: Width: 15.20cm , Height: 0.50cm , Length: 22.90cm Weight: 0.127kg ISBN: 9786208939496ISBN 10: 6208939496 Pages: 88 Publication Date: 17 June 2025 Audience: General/trade , General Format: Paperback Publisher's Status: Active Availability: Available To Order We have confirmation that this item is in stock with the supplier. It will be ordered in for you and dispatched immediately. Language: Portuguese Table of ContentsReviewsAuthor InformationTab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |
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