Controllo dell'invecchiamento dei transistor di potenza
Author:   Tarek Ben Salah ,  Stéphane Lefebvre ,  Douha Othmen
Publisher:   Edizioni Sapienza
ISBN:  

9786208939472


Pages:   88
Publication Date:   17 June 2025
Format:   Paperback
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Controllo dell'invecchiamento dei transistor di potenza


Overview

Questo libro presenta uno studio sperimentale approfondito sul comportamento dei transistor SiC JFET per applicazioni aerospaziali complesse. Viene descritta una metodologia completa, che comprende la progettazione di un banco di prova automatizzato utilizzando LabView, test di robustezza per determinare l'energia critica e test di invecchiamento accelerato per monitorare i cambiamenti dei parametri elettrici. I risultati evidenziano indicatori di degrado affidabili e aprono interessanti prospettive per la progettazione di sistemi elettronici più resistenti in ambienti estremi.

Full Product Details

Author:   Tarek Ben Salah ,  Stéphane Lefebvre ,  Douha Othmen
Publisher:   Edizioni Sapienza
Imprint:   Edizioni Sapienza
Dimensions:   Width: 15.20cm , Height: 0.50cm , Length: 22.90cm
Weight:   0.127kg
ISBN:  

9786208939472


ISBN 10:   620893947
Pages:   88
Publication Date:   17 June 2025
Audience:   General/trade ,  General
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   Available To Order   Availability explained
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Language:   Italian

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